지난 10월 29일 화요일부터 31일 목요일까지 일본 도쿄 마쿠하리 멧세에서 개최된 Highly-functional Material Week의 FILMTECH부분 전시회에 미터랩 모회사인 노비텍(Novitec)이 전시부스 업체로 참가하였다. 그림 1과 같이 노비텍 전시부스(25-12)에서는 미터랩(Meterlab)에서 개발된 시제품을 전시하였으며, 미터랩의 연구개발진들도 함께 참가하였다.
그림 2와 같이 정면에는 분광기와 두께 및 형상 측정기와 관련된 네 가지 제품군에 대한 홍보패널을 전시하였다. 전체적으로 고속 분광기(s-Nova), 초분광 이미징 분광기(s-Nova-H) 및 이와 같이 자체 개발된 분광기를 활용한 두께/굴절률 측정 센서(t-Nova), 삼차원 표면 형상 측정 센서(t-Nova-H), 그리고 이와 같은 제품군들을 활용한 정밀 측정검사 응용분야들이 소개되어 있다.
전시 테이블 상에는 그림 3과 같이 삼차원 표면 형상 측정 센서(t-Nova-850H)와 두께/굴절률 측정 센서(t-Nova-1550TN) 시제품을 설치하여 해당 제품의 실제 작동을 시연하였다. s-Nova-850H를 이용한 측정 시연에서는 위치별로 서로 다른 두께를 갖는 필름 샘플의 두께 분포를 실시간으로 측정할 수 있음을 보였고, t-Nova-1550TN를 이용한 측정 시연에서는 서로 다른 굴절률과 두께를 갖는 샘플을 전시 부스 방문객이 직접 센서에 삽입하여 각 샘플의 두께 및 굴절률 분석결과를 바로 확인할 수 있도록 하였다.
그림 3. s-Nova-850H(좌)와 t-Nova-1550TN(우) 측정 시연 장비
이번 전시회에서는 당사의 첨단 광학 측정 장비들이 전시부스 방문객들로부터 많은 관심을 받았다. 특히 최대 수십 마이크로미터 범위의 박막 두께 분포를 정밀하게 측정할 수 있는 s-Nova-850 초분광 이미징 분광기는 공정상에서 실시간으로 이송되는 샘플의 두께 분포 측정에 적용 가능하다는 점에서 주목을 받았으며, 고속 데이터 획득 및 처리가 가능하다는 점에서 산업 현장의 요구사항에 부합하는 우수한 성능을 선보였다. 더불어 이러한 고속/고분해능 분광기 핵심 기술들을 기반으로 개발된 t-Nova 시리즈는 두께와 굴절률을 동시에 측정할 수 있는 획기적인 센서로, 정밀 두께 및 형상 측정 기술을 필요로 하는 디스플레이 및 박막 필름 분야의 전문가들로부터 많은 관심을 받았다.
그림 4. 전시부스 방문 고객 응대 및 기술 상담
